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體積表面電阻率測試儀(高阻計)應用過程需注意的細節(jié)

更新時間:2025-03-25      點擊次數(shù):75

體積表面電阻率測試儀用于測定材料的絕緣特性,其應用過程需嚴格遵循IEC 60093或ASTM D257標準。測試前制備厚度均勻(誤差≤±3%)的方形或圓形樣品,表面經(jīng)異丙醇清潔并烘干2小時以上,消除靜電干擾。采用三電極系統(tǒng)時,主電極與保護環(huán)間距控制在2mm以內(nèi),確保表面電阻測量時電場分布均勻。測試體積電阻率時,需使用上下對稱電極,避免邊緣漏電流。

操作時,將樣品置于屏蔽箱內(nèi),測試電壓選擇100V-1000V(根據(jù)材料類型調(diào)整),穩(wěn)定30秒后讀取電流值。高阻計自動計算電阻率,表面電阻率測量需保持電極接觸壓力0.2-0.5N/cm2。環(huán)境控制為25±1℃、濕度50±5%RH,必要時通過氮氣置換降低環(huán)境電離影響。針對薄膜材料,采用滾輪電極消除接觸電阻;對復合材料需多點測量取幾何平均值。測試后需放電15秒以上,防止殘余電荷損傷儀器。應用領域涵蓋半導體封裝材料驗證、電纜絕緣層質(zhì)檢、防靜電地板認證等,特別適用于納米涂層導電性能的量化評估。報告需明確區(qū)分體積/表面電阻率,并注明測試電壓與電極配置參數(shù)。



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